（一）激光器選擇：激光粒度儀的重要部件之一，主要有HE-NE激光器和半導體激光器兩種，其中HE-NE激光器的各項性能均優(yōu)于半導體激光器，且成本也遠高于半導體激光器，半導體激光器單向性差的問題，對測試結果的穩(wěn)定性影響很大。因此用戶選擇HE-NE激光器。  
 

（二）光電探測器：國內(nèi)產(chǎn)品采用的光電探測器的種類大同小異，一般就是半環(huán)式、點陣式等，半環(huán)式的優(yōu)勢是能夠以較少的通道數(shù)達到很高的探測精度。而且在出現(xiàn)斷環(huán)時可以臨時采取并環(huán)操作，對測試結果影響很小。點陣式屬于比較老的探測器類型，現(xiàn)在用的比較少。  
 

（三）儀器結構問題：主要分為整體式和分體式，整體式就是將分散系統(tǒng)和測試系統(tǒng)整合為一體，協(xié)同操作，分體式則是分散系統(tǒng)獨立于測試系統(tǒng)，測試者需要先操作分散系統(tǒng)，將樣品分散好再將分散好的樣品通過管道導入測試系統(tǒng)進行測試。這樣的缺點是協(xié)同操作性不好，比較重的顆粒容易在管道中沉淀，清洗不便且對測試結果有一定影響，現(xiàn)在整體式結構的儀器是發(fā)展方向，進口產(chǎn)品大都采用整體式結構，國內(nèi)的產(chǎn)品也慢慢在向整體式結構發(fā)展。  
 

（四）光路設計問題：光路設計是激光粒度儀研制的基礎，進口產(chǎn)品的優(yōu)勢不但在制造工藝上，光路的設計水平也是技術的標志，國內(nèi)的廠家現(xiàn)在大都采用簡單的平行光路設計。